圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 光學測量儀

圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 過濾器底座規格 F20 系列過濾器可以從纖維出口插入和移除。 　型號：FA-100C-K 型號：FA-150EN-K

更新日期：2023-09-01    訪問量：202    

seiwaopt鹵素光纖光源FA-100C/FA-150EN 光學測量儀

seiwaopt鹵素光纖光源FA-100C/FA-150EN 過濾器底座規格 F20 系列過濾器可以從纖維出口插入和移除。 　型號：FA-100C-K 型號：FA-150EN-K

更新日期：2023-09-01    訪問量：194    

seiwaopt圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 光學測量儀

seiwaopt圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 過濾器底座規格 F20 系列過濾器可以從纖維出口插入和移除。 　型號：FA-100C-K 型號：FA-150EN-K

更新日期：2023-09-01    訪問量：184    

YP-250I電子元器件用表面檢查燈 光學測量儀

YP-250I電子元器件用表面檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

更新日期：2023-08-27    訪問量：243    

YP-250I半導體芯片檢測用表面檢查燈 光學測量儀

YP-250I半導體芯片檢測用表面檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

更新日期：2023-08-27    訪問量：232    

YP-250I液晶面板檢測用目視檢查燈 光學測量儀

YP-250I液晶面板檢測用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

更新日期：2023-08-27    訪問量：210    

YP-250I液晶屏幕檢測用目視檢查燈 光學測量儀

YP-250I液晶屏幕檢測用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

更新日期：2023-08-27    訪問量：237    

YP-250I半導體行業用目視檢查燈 光學測量儀

YP-250I半導體行業用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

更新日期：2023-08-26    訪問量：263    

YP-250I晶圓表面瑕疵檢查燈 光學測量儀

YP-250I晶圓表面瑕疵檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

更新日期：2023-08-26    訪問量：254    

YP-250I高照度鹵素強光燈 光學測量儀

YP-250I高照度鹵素強光燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

更新日期：2023-08-26    訪問量：244    

YP-150I表面檢查燈 光學測量儀

YP-150I表面檢查燈 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

更新日期：2023-08-26    訪問量：256    

YP-150I目視檢查燈 光學測量儀

YP-150I目視檢查燈 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

更新日期：2023-08-26    訪問量：281    

YP-150I鹵素強光燈 光學測量儀

YP-150I鹵素強光燈 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

更新日期：2023-08-26    訪問量：393    

日本yamada晶圓瑕疵目視檢查燈YP-150I 光學測量儀

日本yamada晶圓瑕疵目視檢查燈YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

更新日期：2023-08-26    訪問量：272    

日本yamada電子元件目視檢查燈YP-150I 光學測量儀

日本yamada電子元件目視檢查燈YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

更新日期：2023-08-26    訪問量：230